01809nam a22004578c 4500 BV050838792 DE-604 00000000000000.0 t| 260805s2026 gw a||| m||| 00||| ger d 1395080267 DE-101 9783843957212 Paperback : EUR 48.00 (DE), EUR 49.40 (AT) 978-3-8439-5721-2 3843957215 3-8439-5721-5 DE-604 ger rda Heringhaus, Monika E. Verfasser (DE-588)1401063721 aut Informiertes maschinelles Lernen zur Testzeitreduktion von Mikrosystemen = Informed machine learning for test time reduction of micro-electro-mechanical sensors von Monika Elisabeth Heringhaus Informed machine learning for test time reduction of micro-electro-mechanical sensors 1. Auflage München Dr. Hut 2026 XVII, 211 Seiten Illustrationen, Diagramme 21 cm, 350 g Dissertation Universität Stuttgart 2025 Mikrosysteme maschinelles Lernen Testzeitreduktion (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Verlag Dr. Hut (München) (DE-588)10174118-2 pbl oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-036181895 26,N15 dnb 9783843957212 (DE-599)DNB1395080267 ger gw XA-DE-BY DE-91 1\p 620 23sdnb 202604 txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Literaturverzeichnis Seite 179-208 X:MVB text/html https://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=faa2cdfac5294db9832165ea513da31b Inhaltstext 1\p vlb 20260403 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#vlb